Тонкопленочные детекторные CdTe – структуры с барьером Шоттки.
Сублинейные обратные ВАХ толстых пленочных структур основе на CdTe
Температурная зависимость обратной ветви ВАХ Al-p-CdTe-Mo структуры. // Физическая инженерия поверхности
Influence of the back contact on the electrophysical and functional characteristics of thin-film CdTe Schottky barrier detector structures.
Mechanism of Current Transport in Schottky Barrier Diodes Based on Coarse-Grained CdTe Films.
Влияние состава и термообработки в растворе CdCl2 на собственные точечные дефекты в пленках CdTe.
Рентгеновские исследования структуры нового типа A2 B6 приемника электромагнитного излучения.
Исследование промежуточных слоёв диода с барьером Шоттки Al-pCdTe-Мо.
